各種不同的樣品,從單晶矽到多晶矽,從生長的晶片到加工過的晶片,都可以通過MDPlinescan使用少子壽命測量進行檢測。硬件係統被靈活地安裝來執行樣本的逐行掃描。該軟件接口便於與處理係統或自動化係統進行簡單的連接和通信。
MDPlinescan被設計成一個易於集成的OEM單元,用於集成到各種自動化檢測上。關鍵測量是少子壽命掃描。樣品通常由測量探頭下麵的傳送帶或機器人係統傳送。應用實例範圍從磚塊到晶片檢查,測量速度小於每晶片一秒。電池生產線的進料質量調查是常見的應用案例,以及在鈍化和擴散之後的工藝質量檢查,在許多其他的專業應用領域也有很大的可能性。隻需要集成以太網連接和電源就可以了。包括附加電阻率測量選項。